Mohammad Zainal Arif, 201569020003 (2019) ANALISA KOMPOSISI BAHAN DASAR PIRANTI SEL SURYA PADA NANO PARTIKEL SILIKA (SIO2) CAMPURAN SEKAM PADI DAN DAUN BAMBU PETUNG. Sarjana thesis, Universitas Yudharta.
Text (0 Cover dan Daftar Isi.pdf)
0 Cover dan Daftar Isi.pdf Download (1MB) |
|
Text (BAB I - Pendahuluan.pdf)
BAB I - Pendahuluan.pdf Download (162kB) |
|
Text (BAB II - Tinjauan Pustaka.pdf)
BAB II - Tinjauan Pustaka.pdf Restricted to Registered users only Download (1MB) | Request a copy |
|
Text (BAB III - Metode Penelitian.pdf)
BAB III - Metode Penelitian.pdf Restricted to Registered users only Download (324kB) | Request a copy |
|
Text (BAB IV - Hasil dan Pembahasan.pdf)
BAB IV - Hasil dan Pembahasan.pdf Restricted to Registered users only Download (906kB) | Request a copy |
|
Text (BAB V - Penutup.pdf)
BAB V - Penutup.pdf Restricted to Registered users only Download (111kB) | Request a copy |
|
Text (Daftar Pustaka.pdf)
Daftar Pustaka.pdf Download (114kB) |
|
Text (Lampiran.pdf)
Lampiran.pdf Download (2MB) |
Abstract
Energi surya adalah energi terbarukan yang bisa dimanfaatkan untuk berbagai kepentingan guna menggantikan energi konvensional. Energi surya dapat dimanfaatkan melalui 2 macam teknologi, yaitu energi surya thermal dan sel surya. Sel surya terdiri dari kaca pelindung, material adhesive transparan, material anti-refleksi, dan semikonduktor P-type serta N-type untuk menghasilkan medan listrik. Bahan semikonduktor pada sel surya yang banyak digunakan saat ini ialah silikon. Namun silikon (Si) jarang ditemukan dalam bentuk bebasnya, silikon bisa ditemui dalam bentuk senyawa silika (SiO2). Tujuan penelitian ini adalah mendapatkan nano partikel silika dari campuran sekam padi dan daun bambu petung dengan metode sol-gel serta mengetahui komposisi senyawa dan kristalinitas dari nano partikel silika yang dihasilkan. Proses ekstraksi silika dengan metode sol-gel menggunakan kalium hidroksida (KOH) 1,5% dan larutan asam klorida (HCl) 10%. Karakterisasi serbuk silika menggunakan XRF (X-Ray Fluorescence) serta XRD (X-Ray Diffraction). Hasil pengujian XRF menunjukkan bahwa serbuk silika mengandung beberapa senyawa oksida, antara lain SiO2 sebesar 66,2 %, K2O 29,7 %, P2O5 2,5 %, Fe2O3 0,68 %, Yb2O3 0,3 %, CuO 0,21 %, Sc2O3 0,2 %, MnO 0,16 % dan NiO 0,02 %. Hasil pengujian XRD menunjukkan bahwa serbuk silika hanya muncul satu puncak tajam yakni puncak 2θ = 21,533o dengan bidang difraksi 4,1338 Å, memiliki struktur amorf dan fasa kristal cristobalite high (c).
Item Type: | Thesis (Sarjana) | ||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|
Identification Number: | 621.47 ARI A | ||||||
Contributors: |
|
||||||
Subjects: | Teknologi & Ilmu Terapan > Ilmu Teknik dan Ilmu yang Berkaitan | ||||||
Divisions: | Fakultas Teknik > Teknik Mesin | ||||||
Date Deposited: | 13 Oct 2019 15:29 | ||||||
Last Modified: | 02 Mar 2022 06:42 | ||||||
URI: | https://repository.yudharta.ac.id/id/eprint/953 |
Actions (login required)
View Item |